安全・信頼性確保のための講座！人の安全を確保するために不可欠な車載半導体の信頼性を確保するための特別セミナー！！

◆セミナー名：

車載ＥＣＵ・半導体の耐環境性と信頼性向上策

詳細・申込はＨＰから

◆セミナー概要：

【セミナー番号】j100227
 
【会場】日本テクノセンター研修室（東京・新宿区）

【日時】平成22年2月10日(水)　10:30～17:30
　　※時間が変更になりました。

【聴講料】1名につき47,250円（税込、資料付き）
　　※昼食は付いておりません。同時複数申込の場合１名：42,000円
 
【主催】株式会社日本テクノセンター
 
【お問い合わせ】株式会社Ｒ＆Ｄ支援センター
　　※TEL：03-3599-5811　MAIL：http://www.rdsc.co.jp/contact/　

◆講座の内容：

【予備知識】

半導体デバイスの基礎知識

【修得知識】

車載ECU、半導体の耐環境性、信頼性向上のためのチェックポイント

【講師の言葉】

　メカトロニクス化された自動車には１台に多数のECU（電子制御ユニット）が搭載されるようになり、ECUが自動車の品質を左右する要因の一つとなる。ECUの品質はそれを構成する電子部品、中でもマイコンを中心とした半導体の使い方や選び方に依存し、電子信頼性技術の核となっている。

　電磁環境の厳しいECUは半導体が、車両で発生する通常の電気ストレスでは決して壊れないように設計される。半導体の使い方を誤らないためにはその耐環境性を把握し品質を評価することが重要である。この評価には半導体の作り方（工程）が含まれる。半導体の市場品質は流出する欠陥数に依存するためである。本講演ではこうした半導体の耐環境機能と市場品質についての知見と共にそれらの最近の傾向について報告する。

【プログラム】

２．車載環境とＥＣＵの信頼性開発
　　１．電磁環境と耐環境試験
　　２．温湿度環境
　　３．認定試験と限界試験　　限界試験の必要性
　　４．ＥＣＵの耐久性

３．欠陥の流出防止
　　１．市場品質と欠陥　　スクリーニング
　　２．検査率・欠陥検出

４．半導体の耐環境性
　　１．ＥＳＤ耐量と伝搬経路
　　２．電波ノイズ　ロジックレベル
　　３．電源変動とパワーオンリセット
　　４．エミッションノイズと発振回路
　　５．ハーネス故障とパワーＩＣ
　　６．半田耐熱性・パワーＳＭＤ・チップＬＥＤ