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Jun 14, 2007
カテゴリ：AU-α907iMOS Limited
そういえばいつも故障機器を見る時は、外観点検と
テスターで状態を調べるのに今回はやって いなかった。 テスターとは言え何となくMOSFETに触るのが 怖かった。何となく(^^; SANSUI大阪さんとの電話で基本を思い出した感じだ。 我ながらホント素人はダメだね～。 で、早速テスターで調べてみた。 やはり問題のあったHot側のMOSFETが壊れていた。 見た目は全く綺麗なのにソースとドレイン間の抵抗が ほとんどゼロに近い値だった。(3個がダメ) 相当な電流が流れた筈だがよくFETが焼けなかったものだ。 抵抗が焼けたお陰で助かったのかも。違うか？！ 壊れたMOSと交換する新品のMOS  1個だけはかろうじて絶縁破壊を免れたみたいだけど 当然使えない。 全て新品に交換しよう。 これで直ってくれるといいな～。 お気に入りの記事を「いいね！」で応援しよう
Last updated
Jun 14, 2007 10:50:37 PM
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